产品名称及型号：荧光测厚仪   XDL 210

制造商：三思永恒科技（浙江）有限公司

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产品主要功能及应用领域：

 XDL 210 荧光测厚仪主要用于贵金属加工和首饰加工行业、银行、首饰销售和第三方检测机构以及电镀行业无损检测铁镀锌、铁镀铬、铜镀锌、铜镀镍、铜镀金等各类金属镀层厚度测试。

技术参数：

1、元素分析范围：从硫（S）到铀（U）；

2、一次可同时分析3层以上镀层；

3、镀层厚度分析检出限可达0.01μm；

4、分析厚度一般为0.1μm到50μm之间（视材料而不同）；

5、多次测量重复性可达0.1μm（对于小于1μm的最外层镀层）；

6、长期工作稳定性为0.1μm（对于小于1μm的最外层镀层）；

7、配置小孔准直器，测试光斑在0.1mm以内；

8、探测器能量分辨率为145±5eV；

9、应用于金属电镀层厚度的测量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等；